<li id="oc000"></li> 問題表現：譜圖中出現多余吸收峰，無法準確識別目標物質的特征峰。
常見原因：樣品中含有溶劑殘留（如乙醇、丙酮）、水分，或未去除雜質（如固體樣品中的灰塵、液體樣品中的懸浮顆粒）。
解決方法：固體樣品需通過重結晶、蒸餾等方式提純；液體樣品需用無水硫酸鈉干燥除水，或采用溶劑萃取法去除雜質；測試前確保樣品容器（如 KBr 壓片模具、液體池）清潔無殘留。
固體 KBr 壓片時，樣品與 KBr 混合比例不當（通常樣品占比 1%-2%，比例過高易飽和，過低信號弱），或壓片不緊實、有裂紋，導致光線散射。
液體樣品過濃，或液體池厚度選擇錯誤（如高濃度樣品用 1mm 厚池，易出現飽和峰）。
問題表現：譜圖基線漂移嚴重、吸收峰強度過低或出現平頭峰（信號飽和）。
常見原因：
解決方法：調整樣品與 KBr 混合比例，確保壓片均勻無裂紋；根據樣品濃度選擇合適厚度的液體池（低濃度用 5mm 厚池，高濃度用 0.1mm 厚池）。
儀器內部受潮（濕度＞65%），導致光學部件（如檢測器、光柵）性能不穩定。
基線校正時，背景掃描區域有污染物（如樣品室殘留樣品、空氣中的水汽 / CO?）。
儀器長時間未使用，光學部件未達到穩定狀態。
問題表現：基線無法平直，或測試過程中基線持續向上 / 向下漂移，影響峰面積積分與峰位判斷。
常見原因：
解決方法：開啟儀器內置除濕功能，或在樣品室放置干燥劑（如變色硅膠），待濕度降至 40%-60% 再校正；校正前清潔樣品室，用空白 KBr 片或空液體池掃描背景；開機后預熱 30-60 分鐘，待儀器穩定后再操作。
測試后未及時清理樣品室，殘留樣品揮發或散落，污染光學鏡片。
放置樣品時碰撞樣品臺，導致樣品臺位置偏移，光線無法正常通過樣品。
液體樣品泄漏，腐蝕樣品室內部部件（如金屬樣品臺、密封墊）。
問題表現：譜圖中出現固定位置的雜峰（如空氣中 CO?的 2349cm?1 峰、水汽的 1630cm?1 峰異常增強），或儀器報錯 “樣品室未關閉"“檢測器異常"。
常見原因：
解決方法：每次測試后用干凈的軟布擦拭樣品室，若有液體泄漏，立即用無水乙醇清理并晾干；調整樣品臺位置，確保樣品中心與光路對齊；定期檢查樣品室密封墊，若老化或損壞及時更換。
樣品測試時溫度波動（如室溫變化超過 5℃），導致分子振動頻率改變。
數據處理時分辨率設置不當（如低分辨率掃描導致峰形寬化，無法區分鄰近峰）。
固體樣品研磨不充分，顆粒度過大，導致光線散射，峰形失真。
問題表現：目標物質的特征峰位置與標準譜圖偏差超過 1-2cm?1，或峰形寬化、分裂。
常見原因：
解決方法：在恒溫環境（20-25℃）下測試，避免溫度劇烈變化；根據樣品需求選擇合適分辨率（通常有機化合物測試用 4cm?1 分辨率，精細分析用 2cm?1）；固體樣品需研磨至粒徑＜5μm，確保混合均勻。
樣品中含有多種雜質，干擾特征峰識別。
譜庫選擇錯誤（如用無機物譜庫匹配有機樣品，或譜庫版本過舊，缺少目標物質譜圖）。
測試范圍設置不當（如未覆蓋目標物質的關鍵特征峰區域，如 OH 的 3200-3600cm?1）。
問題表現：測試譜圖與標準譜庫中的譜圖匹配度低于 80%，無法確定樣品成分。
常見原因：
解決方法：先提純樣品，去除雜質后重新測試；選擇與樣品類型匹配的譜庫（如 NIST、Sadtler 譜庫）；確保測試范圍覆蓋 4000-400cm?1（中紅外區），避免遺漏關鍵特征峰。
問題表現：譜圖信號強度顯著降低，信噪比變差，弱吸收峰無法識別。
常見原因：檢測器長時間使用后老化，或暴露在強光、高濕度環境中受損；檢測器窗口有灰塵或樣品殘留，影響光線接收。
解決方法：定期（每 3-6 個月）由專業人員檢查檢測器性能，若老化嚴重需更換；每次維護時用鏡頭紙蘸無水乙醇輕輕擦拭檢測器窗口，避免刮傷。
問題表現：儀器報錯 “光源能量低"，或譜圖中全波段信號強度普遍偏低。
常見原因：光源（如硅碳棒、氘燈）使用時間超過壽命（通常硅碳棒壽命為 2000-3000 小時）；光源供電不穩定，或光源與光路 alignment 偏移。
解決方法：記錄光源使用時間，達到壽命前及時更換；檢查儀器供電電壓是否穩定（需符合 220V±5% 要求）；若光路偏移，聯系廠家技術人員重新校準光路。
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